Bilanz der Quelle: Die Normungsgruppe JC-70 bei JEDEC hat zwei neue Leitfäden für Siliziumkarbid-Bauteile veröffentlicht und ist von 23 auf über 70 Mitgliedsfirmen gewachsen. JEP203 regelt die Kurzschlussprüfung von Leistungstransistoren, während JEP204 Stress- und Umweltverfahren für SiC-Bauteile bündelt.
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Die Inhalte dieses Artikels wurden automatisiert mittels Künstlicher Intelligenz generiert. Die zugrundeliegenden Daten stammen von jedec.org. Es erfolgte keine manuelle redaktionelle Bearbeitung.
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