Bilanz der Quelle: TSE erwartet, dass die Prüfung von Known-Good-Stacked-Die erst ab HBM4E in die Serie kommt. Der neue Die-Träger erreicht eine Ausrichtung von plus/minus 5 Mikrometer und hält bis zu 22.000 Testzyklen.
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Die Inhalte dieses Artikels wurden automatisiert mittels Künstlicher Intelligenz generiert. Die zugrundeliegenden Daten stammen von thelec.net. Es erfolgte keine manuelle redaktionelle Bearbeitung.
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